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Lesson Plan: Diffraction des électrons et microscopie Physique • Third Year of Secondary School
Ce plan de leçon comprend les objectifs, les prérequis et les exclusions de la leçon apprenant aux élèves à décrire la diffraction de faisceau d’électrons, comment elle est utilisée en microscopie électronique, et comment les autres formes de microscopie électronique se comparent à celle-ci.
Objectives
Students will be able to
- combiner les formules relatives à l’énergie cinétique d’un objet et le gain en énergie cinétique par charge électrique uniformément accélérée afin de déterminer l’augmentation de la vitesse d’une charge uniformément accélérée,
- appliquer la formule pour déterminer la longueur d’onde d’un électron à partir de sa vitesse calculée,
- décrire qualitativement les modifications des figures de diffraction des électrons résultant des variations de la longueur d’onde des électrons,
- appliquer la formule qui établit une relation entre et l’espacement atomique d’une structure cristalline,
- décrire les fonctions des éléments constituant un microscope électronique en transmission,
- comparer qualitativement le fonctionnement des microscopes électroniques en transmission à d’autres types de microscopes électroniques.
Prerequisites
Students should already be familiar with
- les valeurs de la charge et de la masse d’un électron exprimées dans les unités de base du SI,
- l’énergie cinétique = ,
- pour les champs électriques uniformes,
- énergie cinétique d’une particule chargée résultant de l’accélération à travers un champ électrique uniforme ,
- la constante de Planck comme valeur utilisée dans les formules,
- la relation qualitative entre les maxima et les minima des écarts angulaires des modèles de diffraction et la longueur d’onde des ondes produisant ces modèles.
Exclusions
Students will not cover
- la relation quantitative entre les maxima et les minima des écarts angulaires des modèles de diffraction des électrons et la longueur d’onde des électrons produisant le modèle,
- les aspects des techniques d’imagerie en microscopie électronique autre que la proportionnalité entre les séparations des maxima et minima de diffraction et l’espacement interatomique d’une structure cristalline.
